Conductive Atomic Force Microscopy (engleski)

· Wiley-VCH · 2017 · vezana · 362 stranica

Conductive Atomic Force Microscopy (engleski)

3 382,31 €
3 382,31 €
Cijena niža za 11 % u odnosu na preporučenu maloprodajnu cijenu
Uobičajeno 3 803,13 €
Proizvod trenutno nije dostupan.
Provjerite dostupne alternative.
Foreword Preface Introduction to CAFM: History, Experimental and Current Status Reliability of Polycrystalline Thin Oxides and Insulators Investigation of High-k Dielectric Stacks by TUNA and CAFM: Advantages, Limitations and Applications 3D Tomography for Analyzing Conductive Filaments for... pročitati sve 
  • Moglo bi i Vas zanimati
  • Ostale knjige autora
  • Ostala roba izdavača
  • Zadnji put pogledano
  • Slični autori

Kolekcionarske etikete

Slični autori

Provjerene recenzije su izričito označene kao takve, ostale su neprovjerene.
Nema recenzija. Budite prvi koji će napisati svoju!
Váš avatar
Odaberi
Ime
Vaše recenzije
0

Knjiga gostiju

Potvrđeni postovi su označeni kao takvi, ostali su neprovjereni.

Veleprodajna suradnja

Ukoliko imate zanimljiv asortiman, slobodno nas kontaktirajte. Nudimo zanimljive pretplate, brza plaćanja i suradnju s poštovanjem.

prodaja-na-veliko@megaknjige.hr

Alkohol mogu kupiti samo osobe starije od 18 godina.

Molimo potvrdite da već imate 18 godina.