Košara
roba
(prazno)
Kontakt
Račun
- Izdavač: Springer US
- Kod:
- Godina izdavanja: 2007
- Jezik: Engleski jezik
- Uvez: Čvrsta
- Broj stranica: 352
- Širina pakiranja: 16 cm
- Visina pakiranja: 24.1 cm
- Dubina pakiranja: 2.3 cm
- Težina pakiranja: 694 g
-
Knjige
-
Za djecu
-
Romani • fikcija
-
Detektivni • kriminalni romani
-
Mladi odrasli
-
Fantazija • Sci-Fi
-
Stručne • edukativne
-
Kuharske knjige
-
Stripovi
-
Motivacija i osobni razvoj
-
Hobi
-
Udžbenici
-
Esoterizam • Astrologija
-
Trileri • horori
-
Zdravlje i stil života
-
Poezija • drama
-
Obitelj • odnosi • djeca
-
Poduzetništvo • Računovodstvo
-
Sve kategorije
-
Recenzije Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
Zadnji put pogledano
Recenzije