Thin Film Analysis by X-Ray Scattering (engleski)

· Wiley-VCH Verlag GmbH · 2005 · tvrdi · 378 stranica

Thin Film Analysis by X-Ray Scattering (engleski)

Šaljemo u roku od 3 do 5 dana
Nekoliko klikova i roba stiže do Vas
Megasleva
173,20 €
173,20 €
Cijena niža za 10 % u odnosu na preporučenu maloprodajnu cijenu
Uobičajeno 192,44 €
   
With contributions by Paul F. Fewster and Christoph Genzel While X-ray diffraction investigation of powders and polycrystalline matter was at the forefront of materials science in the 1960s and 70s, high-tech applications at the beginning of the 21st century are driven by the materials science... pročitati sve 
  • Moglo bi i Vas zanimati
  • Ostale knjige autora
  • Ostala roba izdavača
  • Zadnji put pogledano
  • Slični autori

Kolekcionarske etikete

Slični autori

Provjerene recenzije su izričito označene kao takve, ostale su neprovjerene.
Nema recenzija. Budite prvi koji će napisati svoju!
Váš avatar
Odaberi
Ime
Vaše recenzije
0

Knjiga gostiju

Potvrđeni postovi su označeni kao takvi, ostali su neprovjereni.

Veleprodajna suradnja

Ukoliko imate zanimljiv asortiman, slobodno nas kontaktirajte. Nudimo zanimljive pretplate, brza plaćanja i suradnju s poštovanjem.

prodaja-na-veliko@megaknjige.hr

Alkohol mogu kupiti samo osobe starije od 18 godina.

Molimo potvrdite da već imate 18 godina.